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Afficher la couverture 'Mortality among semiconductor and storage device-manufacturing workers. = (Mortalité parmi les travailleurs de la production de semiconducteurs et de dispositifs de stockage informatiques).. 10. 47 | BEALL C.' en grand format
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Mortality among semiconductor and storage device-manufacturing workers.


(Mortalité parmi les travailleurs de la production de semiconducteurs et de dispositifs de stockage informatiques).


Article

BEALL C. | BENDER T.J. | CHENG H. | HERRICK R. | ET COLL.

Publié dans : Journal of Occupational and Environmental Medicine, Etats-Unis, vol. 47, n° 10, octobre 2005, pp. 996-1014, ill., bibliogr. (En anglais)

Le but de cette étude était d'évaluer la mortalité de 1965 à 1999 parmi les 126 836 travailleurs de deux usines de fabrication de semiconducteurs et d'une usine de fabrication de dispositifs de stockage informatiques. Les taux de mortalité par cause des employés ont été comparés à ceux de la population générale, et les courbes de mortalité ont été examinées en fonction du site, de la durée de l'emploi, du temps depuis l'entrée en fonction, et de l'activité. Les résultats ont montré que les employés avaient un taux de mortalité globale plus faible que celui attendu (6 579 décès observés, pour un rapport standardisé de mortalité SMR de 65, avec un intervalle de confiance à 95 % de 64 à 67), de même que pour tous cancers combinés (2 159 décès observés, SMR = 78, IC à 95 % = 75-81), et pour les autres grandes pathologies. Les cancers du système nerveux central étaient associés à la maintenance des équipements dans l'une des usines de semiconducteurs (10 décès observés, SMR = 247, IC à 95 % = 118-454). Les cancers de la prostate étaient associés au travail dans les laboratoires de l'usine de dispositifs de stockage (18 décès observés, SMR = 198, IC à 95 % = 117-313). En conclusion, ces résultats demandent d'autres investigations en particulier pour clarifier l'interprétation des associations observées.

  • Mots-clés
  • Description
N° de notice
131833
Langue
anglais
Année
2005
Pagination
pp.996-1014.
Autre
ill., bibliogr.
Descripteurs
SEMI-CONDUCTEUR
MICROELECTRONIQUE
MORTALITE
FABRICATION

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