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Hierarchical cluster analysis for exposure assessment of workers in the semiconductor health study.


(Analyse par groupe hiérarchique pour évaluer l'exposition des travailleurs dans l'industrie des semi-conducteurs).


Article

HINES C.J. | SELVIN S. | SAMUELS S.J. | HAMMOND S.K. | ET COLL.

Publié dans : American Journal of Industrial Medicine, Etats-Unis, vol. 28, n° 6, décembre 1995, pp. 713-722, ill., bibliogr. (En anglais)

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