Afficher la couverture 'Hierarchical cluster analysis for exposure assessment of workers in the semiconductor health study. = (Analyse par groupe hiérarchique pour évaluer l'exposition des travailleurs dans l'industrie des semi-conducteurs).. 6. 28 | HINES C.J.' en grand format
/5

0 avis

Hierarchical cluster analysis for exposure assessment of workers in the semiconductor health study.


(Analyse par groupe hiérarchique pour évaluer l'exposition des travailleurs dans l'industrie des semi-conducteurs).


Article

HINES C.J. | SELVIN S. | SAMUELS S.J. | HAMMOND S.K. | ET COLL.

Publié dans : American Journal of Industrial Medicine, Etats-Unis, vol. 28, n° 6, décembre 1995, pp. 713-722, ill., bibliogr. (En anglais)

Suggestions

Du même auteur

Estimation of cumulative exposures to ethylene oxide associated wih hospital ste...

Article | HINES C.J. | 1984

Determinants of chlorpyrifos exposures and urinary 3,5,6-trichloro-2-pyridinol l...

Article | HINES C.J. | 2001

Les objectifs de cette étude étaient de caractériser les expositions au chlorpyrifos et les tâches professionnelles d'un groupe d'épandeurs d'insecticides, et d'identifier les facteurs déterminants importants de l'exposition au ch...

Patterns of chemical use and exposure control in the semiconductor health study.

Article | HALLOCK M.F. | 1995

Chargement des enrichissements...