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Tiered exposure-assessment strategy in the semiconductor health study.


(Stratégie d'évaluation de l'exposition à 3 niveaux dans les études sur la santé des travailleurs de l'industrie des semi-conducteurs).


Article

HAMMOND S.K. | HINES C.J. | HALLOCK M.F. | WOSKIE S.R. | ET COLL.

Publié dans : American Journal of Industrial Medicine, Etats-Unis, vol. 28, n° 6, décembre 1995, pp. 661-680, ill., bibliogr. (En anglais)

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