The association of oxidative stress and DNA damage with XRCC1 and XRCC3 polymorphisms in radiology technicians.


(Association du stress oxydatif et de dommages sur l'ADN avec les polymorphismes XRCC1 et XRCC3 chez des techniciens en radiologie).


Article

SOYLEMEZ E. | OZCAGLI E. | KORKMAZ S. | TOK O.E. | ET COLL.

Est Publié dans : Toxicology and Industrial Health, vol.38 n°2, février 2022, pp.70-79, ill., bibliogr.

Les techniciens en radiologie représentent un groupe professionnellement exposé à de faibles doses de rayonnement. L'évaluation de l'effet des rayonnements sur le matériel génétique est essentielle pour évaluer les résultats à long terme sur la santé. Les variations héréditaires des gènes de réparation de l'ADN entraînent une différenciation des réponses individuelles aux effets sur la santé liés aux rayonnements. Cette étude visait à déterminer le stress oxydatif et les dommages à l'ADN, ainsi que leur relation avec les polymorphismes XRCC1 (Arg399Gln) et XRCC3 (Thr241Met) chez les techniciens en radiologie professionnellement exposés à des rayonnements à faible dose. Des échantillons de sang périphérique ont été prélevés auprès de 45 techniciens en radiologie et appariés selon l'âge avec 40 personnes témoins en bonne santé travaillant dans des environnements de bureau. Les résultats ont montré que les techniciens en radiologie présentaient un stress oxydatif et des dommages à l'ADN significativement plus élevés que le groupe témoin, et que les femmes semblaient plus sensibles à l'exposition professionnelle aux rayonnements que les hommes. Les individus avec des génotypes de type sauvage pour XRCC1 (Arg/Arg) et XRCC3 (Thr/Thr) avaient moins de dommages à l'ADN. Des niveaux plus faibles de dommages à l'ADN pourraient s'expliquer par la capacité accrue à réparer les dommages à l'ADN induits par les radiations à faible dose. D'autres études sont nécessaires pour évaluer le rôle des gènes de réparation de l'ADN chez les personnes qui sont professionnellement exposées à de faibles doses de rayonnement.

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