Aide à la conception d'appareils fiables et sûrs : le DEFI.


Article

GERARDIN J.P.

Publié dans : Electronique industrielle, no 116, 15 novembre 1986, pp. 58-63, ill., bibliogr.

Présentation de l'appareil DEFI (outil de test de validation de la sûreté de fonctionnement de systèmes électroniques à microprocesseur), mis au point à l'INRS et commercialisé par une société française. Principe de fonctionnement : simulation physique de défauts par injection d'erreurs dans le programme du système à valider, analyse en temps réel du comportement de celui-ci et enregistrement des erreurs qui en perturbent le fonctionnement. Caractéristiques : rapidité du test et grand nombre d'erreurs générées pouvant être choisies parmi différents modèles de fautes.

Suggestions

Du même auteur

Leçons d'un accident : regards critiques sur les écrans des centres d'usinage. | RICHEZ J.P.

Leçons d'un accident : regards critiques sur les écrans des centres d'usinage.

Article | RICHEZ J.P. | 2005

La technologie d'usinage a beaucoup évolué au cours des deux dernières décennies. Grande vitesse et commandes numériques sont maintenant largement répandues dans le domaine industriel, y compris au sein des petites entreprises. A ...

Systèmes électroniques analogiques et sécurité.. 1. 64 | VAUTRIN J.P.

Systèmes électroniques analogiques et sécurité.

Article | VAUTRIN J.P. | 1984

Article rendant compte d'une étude réalisée par le département Environnement physique et sécurité du Centre de recherche de l'INRS et portant sur l'analyse de la fiabilité et de la sécurité des systèmes analogiques. 1re partie : a...

Un nouvel outil d'analyse de la sûreté de fonctionnement des systèmes programmables.. 74 | GERARDIN J.P.

Un nouvel outil d'analyse de la sûreté de fonctionnement des systèmes programmab...

Article | GERARDIN J.P. | 1984

Description d'un simulateur réalisé par l'INRS, permettant d'analyser de façon relativement satisfaisante des dispositifs électroniques de sécurité utilisant des microprocesseurs : conception, cahiers des charges à respecter et im...

Chargement des enrichissements...