Exposure assessment among US workers employed in semiconductor wafer fabrication.


(Evaluation de l'exposition de travailleurs américains employés dans la fabrication de galettes de semi-conducteurs).


Article

MARANO D.E. | BOICE J.D. Jr | MUNRO H.M. | CHADDA B.K. | ET COLL.

Publié dans : Journal of Occupational and Environmental Medicine, Etats-Unis, vol. 52, n° 11, novembre 2010, pp. 1075-1081, ill., bibliogr. (En anglais)

L'objectif de cette étude était de classer des travailleurs employés entre 1983 et 2002 dans la fabrication de semi-conducteurs en fonction de leur exposition potentielle aux produits chimiques dans les salles blanches lors de la fabrication de galettes en silicone. 100 081 salariés ont été inclus dans cette étude, 10 sites de production ont été visités, et 12 300 échantillons d’air individuels ont été évalués pour plus de 60 produits chimiques. Chaque salarié a été classé dans un des 5 groupes d’expositions basés sur la combinaison entre l’emploi occupé et le service de rattachement. Plus de 98 % des échantillons d’air individuels étaient en-dessous des limites d’exposition professionnelle actuelles. En conclusion, bien que les expositions chimiques spécifiques au niveau individuel n’aient pu être quantifiées, les travailleurs de l’industrie des semi-conducteurs ont pu être classés dans des groupes d’exposition. Ce schéma d’exposition a été utilisé dans une étude épidémiologique qui avait pour objectif d’évaluer la mortalité par cancer dans cette industrie.

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